国产成人无码AV,轻轻操成人国产免费,五月天丁香婷婷久久,精品欧美国产在线观看

產(chǎn)品展示
PRODUCT DISPLAY
產(chǎn)品展示您現(xiàn)在的位置: 首頁 > 產(chǎn)品展示 > 日本京都 > 其他熱分析儀器 >日本filmetrics板厚測量系
日本filmetrics板厚測量系

產(chǎn)品時間：2024-06-01

訪問次數(shù)：626

簡要描述：

日本filmetrics板厚測量系統(tǒng)F3-sX
可以高精度測量硅基板和玻璃基板的厚度。
通過安裝初開發(fā)的具有高波長分辨率的光譜儀，可以測量高達 3 mm 的厚膜。
憑借 10 μm 的小光斑直徑，可以測量粗糙和不均勻的薄膜。
通過添加自動載物臺，可以輕松測量面內(nèi)分布。

在線咨詢 點擊收藏

日本filmetrics板厚測量系統(tǒng)F3-sX

undefined

主要特點

 

  • 高精度測量硅基板和玻璃基板的厚度

  • 配備自主研發(fā)的高波長分辨率分光鏡！可測量高達 3 mm 的厚膜

  • 10 μm 的小光斑直徑可以測量粗糙和不均勻的薄膜。

  • 通過添加自動平臺輕松測量面內(nèi)分布

可以高精度測量硅基板和玻璃基板的厚度。
通過安裝初開發(fā)的具有高波長分辨率的光譜儀，可以測量高達 3 mm 的厚膜。
憑借 10 μm 的小光斑直徑，可以測量粗糙和不均勻的薄膜。
通過添加自動載物臺，可以輕松測量面內(nèi)分布。

主要應(yīng)用

半導(dǎo)體平板顯示器
硅基板、LT基板、Ti基板等的厚度測量
測量玻璃基板厚度和氣隙

產(chǎn)品陣容

模型F3-s980F3-s1310F3-s1550測量波長范圍

膜厚測量范圍
（Si 基板）

膜厚測量范圍
（玻璃基板）性測量光斑直徑



960 – 1000nm1280 – 1340nm1520 – 1580nm
4 微米 – 350 微米7 微米 – 1 毫米10 微米 – 1.3 毫米
10 微米 – 1 毫米15 微米 – 2 毫米25 微米 – 3 毫米
± 0.4% 薄膜厚度
10微米

*取決于樣品和測量條件


留言框

  • 產(chǎn)品：

  • 您的單位：

  • 您的姓名：

  • 聯(lián)系電話：

  • 常用郵箱：

  • 省份：

  • 詳細地址：

  • 補充說明：

  • 驗證碼：

    請輸入計算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

聯(lián)系方式

  • 電話

在線客服